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精密量测系统

CM全面式面板/LED光學檢查系統
CM全面式面板/LED光學檢查系統
描述:RD研发单位对光学产品多方位分析及QC品管单位在线快速测量使用,CM系列于1997年为CCFL、BLU、LCM或LCD测量光学特性三波长光源专业开发。其特性可符合各光学产品测量,并依人眼特性设计,符合自然观测特性。超高检测效率:平均一个光学···
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    RD研发单位对光学产品多方位分析及QC品管单位在线快速测量使用,CM系列于1997年为CCFL、BLU、LCM或LCD测量光学特性三波长光源专业开发。

    其特性可符合各光学产品测量,并依人眼特性设计,符合自然观测特性。

    超高检测效率:

    平均一个光学工件2秒内准确检测辉度色度所有信息,一天可检测一万个工件以上,并统计分析所有产品Ca、Cp、Cpk质量趋势。

    •自动撷取Back Light位置。

    •自动撷取LED位置做测量,并自动计算LED颗数。

    点、线、面全方位测量:

    不管是标准13点、25点、81点,甚至是160点或更高,最高可设定10000点以上,操作方便,只需几秒中就可设定完成测量。

    全方位光学特性分析:

    •3D辉度立体图动态显示,便于分析。

    •多样线性辉度分布解析功能,辉度差异及变化率数值立刻展现。

    •x,y色度坐标分布图,每一点均清晰可见,搭配RANK规格控制,差异性立刻显现。

    •搭配CIE1931图,颜色分布一目了然。

    •自动绘出LED light bar辉色度分布图,辉色度变化无所遁形。

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    •自动判定中心点辉度、辉度/x、y色度均齐性、平均值是否合乎规格,并有告警显示;SPC管制,质量看的见,自动计算辉色度均匀度、最大值、最小值、平均值,测量信息快速显示功能。

    •尺寸测量、测量信息快速导出EXCELL功能,照片及标注均可导出。

    •高精度、快速之光学辉度、色度检测辉度范围测量:10-30,000cd/m2、辉度再现性:±1.5 %、色度再现性: CIE(x,y)色度±0.003、于特定光源条件下。

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    •图片标注:对于MURA不良位置可做尺寸标示及注释

    •精准算出LED之间格尺寸

    •20 channel 10mA至30mA独立回授控制电源供应器

    •设定值可由软件直接控制,并显示实际输出电压/电流/频率

    •可精准控制各串LEDs之电流,每组并可独立设定电流或ON/OFF

    •万用Led Light Bar夹具:定位Front view及Side view的Light ba

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