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AOI 系统又一新技术突破！

更新时间：2011-08-06 09:58:00 阅读：986

继之前半导体E-mapping 系统完成后， 中方精密量测研发小组开发完成针对Wafer 切割道与道幅量测的 AOI 系统 , 从 MES Link Lot. Wafer No. 到自动送Wafer进入量测机台与自动侦测道幅量测AOI 一气呵成！是封装测试少量多样的最佳选择！该技术可延伸应用于面板玻璃切割或PCB板。

详情请拨中方科技台北总公司0914-168166项目经理邱培其先生。

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